Series in Microelectronics

edited by        Wolfgang Fichtner
                        Qiuting Huang
                        Heinz Jäckel
                        Gerhard Tröster
                        Bernd Witzigmann

Vol. 210

 

 

Sven Ebert,

EMF Risk Assessment:

Exposure Systems for Large-Scale Laboratory and
Experimental Provocation Studies.

2010. XIV, 180 pages. ISBN 3-86628-331-8 and 978-3-86628-331-2

 

TOC of book

 

Keywords: Spezifische Absorptionsrate, Expositionssystem, Dosimetrie, Elektromagnetische Strahlung, RF Exposition, Thermische Grenze, PERFORM, Gesundheitsgefährdung, Mobilfunk.


Series in Microelectronics

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